通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE,仅需4秒即可连续测量。与传统机型不同的是,*在SCI和SCE模式之间进行频繁的机械切换,这样就提高了工作效率。由于在切换模式时测量区域不会变化,因此可提供稳定的测量数据。包含UV的光源和筛除UV的光源依次发光,可获取包含UV的光源下的样本数据和不包含UV的光源下(400nm或420nmUV截止滤光片)的样本数据。 也可轻松获取任意光源下的数据(UV调整)。任意光源下仅需测量已知分光反射率数据的标准荧光样本,即可完成UV校正。UV校正后可获取相应光源下的样本数据。由于*对UV截止滤光片移动引起的尝试错误进行UV调整,大大缩短了测量时间。 主要用途 各行业的研发和质量管理部门 大学、实验室、检查机构 公司位于深圳市龙华区大浪街道英泰路147号国盛工业园D栋国盛金星联创时代712 销售的产品:色差仪|照度计|示波器|密度仪|网络分析仪|频谱仪|LCR|电子负载|电源| 采购的产品:色差仪|照度计|示波器|密度仪|网络分析仪|频谱仪|LCR|电子负载|电源| 主营行业:电子设备 经营范围:销售、维修、回收、租赁各类进口仪器仪表 深圳市华信电子有限公司专业销售、回收、租赁、维修各类进口电子仪器仪表 联系人:卓小姐